基于控制器的NAND FLASH寿命预测方法、系统、装置和控制器

本发明公开一种基于控制器的NAND FLASH寿命预测方法、系统、装置和控制器，方法包括：获取NAND FLASH中各存储模块对应的运行特征数据，其中，运行特征数据包括擦除次数、读取错误率、ECC纠正次数、擦除电压和历史擦除间隔时间；将各存储模块对应的运行特征数据输入预设寿命预测模型得到各预测结果；根据各预测结果确定各存储模块对应的剩余使用寿命。本发明通过利用多种能够对存储模块的剩余使用寿命的动态因素来对使用寿命进行预测，能够从多个维度来预测存储模块的剩余使用寿命，提高了寿命预测准确性。