非球面顶点曲率半径测量方法、装置、设备及存储介质

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正文
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非球面顶点曲率半径测量方法、装置、设备及存储介质
申请号:CN202510523720
申请日期:2025-04-24
公开号:CN120212945A
公开日期:2025-06-27
类型:发明专利
摘要
本申请属于光学制造的技术领域,公开了一种非球面顶点曲率半径测量方法、装置、设备及存储介质,该方法包括:获取非球面反射镜的尺寸数据,根据尺寸数据,结合预设的非球面局部采样密度计算公式和预设的边缘区域加密准则,生成测量点阵,测量测量点阵的位置坐标,得到与测量点阵对应的测量数据,利用局部搜索算法,基于测量数据,计算得到非球面反射镜的实际非球面顶点曲率半径;通过局部搜索算法,基于由预设的非球面局部采样密度计算公式和预设的边缘区域加密准则生成的测量点阵所对应的测量数据,计算得到非球面反射镜的实际非球面顶点曲率半径,提高了非球面顶点曲率半径的测量效率。
技术关键词
非球面反射镜 顶点曲率半径 局部搜索算法 测量方法 密度 数据 加密 尺寸 处理器 滤波 坐标 可读存储介质 采样点 模块 存储器 理论 电子设备
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