基于CAD模型点云约束的精密扫描点云定位方法

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基于CAD模型点云约束的精密扫描点云定位方法
申请号:CN202510524205
申请日期:2025-04-24
公开号:CN120355789A
公开日期:2025-07-22
类型:发明专利
摘要
基于CAD模型点云约束的精密扫描点云定位方法,涉及三维扫描测量技术领域。解决了传统的使用结构光扫描技术确定多孔零件孔中心定位方法,存在点云存在噪声、以及特征匹配过程二维至三维映射过程存在坐标偏差,导致定位准确性低的问题。本发明方法根据CAD模型点云携带感兴趣子集点云去匹配目标点云,然后根据感兴趣子集点云去提取目标点云的感兴趣子集点云,根据所提取的目标点云的各感兴趣子集点云的坐标计算质心坐标,完成孔中心定位。本发明主要用于对多孔实体零件的孔中心定位。
技术关键词
扫描点云 感兴趣 结构光扫描技术 存储设备 中心定位方法 实体 坐标 零件 ICP算法 点云去噪 计算机程序产品 处理器 网格 滤波 噪声 偏差 标记
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