一种电路板产品检测方法

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一种电路板产品检测方法
申请号:CN202510533923
申请日期:2025-04-27
公开号:CN120064948A
公开日期:2025-05-30
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种电路板产品检测方法,属于电数字数据处理技术领域,本发明首先通过温度循环、湿热、高压应力、机械振动、电源循环和电磁干扰六种基础测试获取电路板基本老化数据,然后利用老化参数优化方程组科学计算功能负载测试的最优参数组合,包括负载强度百分比与持续时间;接着采用预训练的电路寿命预测模型分析全部测试数据,动态优化快速温度冲击测试参数,最后通过检测关键电气参数变化率评估老化效果。该方法建立了基于数据驱动的参数优化系统,实现了电路板老化测试参数的科学化、精确化和智能化配置,有效解决了传统老化测试参数设置缺乏科学依据导致测试效率低下的技术问题。
技术关键词
寿命预测模型 电路板老化 负载测试方法 产品检测方法 方程 电路板设计 电数字数据处理技术 双向长短期记忆网络 融合多维特征 卷积神经网络提取 参数优化系统 注意力机制 性能指标数据 电路板材料 剩余使用寿命 电气 参数随时间 测试覆盖率
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