跨Die数据通路的设计方法、装置、电子设备、可读存储介质和程序产品

本申请涉及一种跨Die数据通路的设计方法、装置、电子设备、可读存储介质和程序产品。通过对芯片跨Die数据通路进行阶段设计，产生跨Die数据通路每个阶段的RTL代码，并对芯片硬件HW验证按模式划分，将每个阶段的RTL代码作为待测设计DUT与验证平台连接，进行跨Die数据通路不同模式下的功能验证，并选择不同阶段的RTL代码进行芯片软件SW测试，以进行跨Die数据通路的功能测试。其通过对芯片跨Die数据通路进行阶段设计，简化了设计流程，降低了设计复杂度；通过将每个阶段的RTL代码作为待测设计DUT与验证平台连接进行验证及软件测试，提高了验证的灵活性和效率，增加了芯片软件测试的可靠性。