测试设备及内存测试方法

本申请实施例提供一种测试设备及内存测试方法，其中所述测试设备，用于测试内存通路；所述测试设备包括：模拟电路，所述模拟电路用于模拟内存颗粒的电气特性；连接通路，与内存通路连接，用于通过内存通路接收来自处理器发送的内存测试信号，并传递至所述模拟电路以及信号测量接口；信号测量接口，用于将来自于内存通路的内存测试信号发送至信号测量工具，以便所述信号测量工具确定所述内存测试信号的信号状态，所述信号状态用于表示所述内存通路是否正常；其中，所述信号测量接口扇出的所述连接通路。增强了输出至信号测量工具的内存测试信号的稳定，提高了内存信号测试的准确性。