摘要
本发明公开了一种伪装材料的光学性能检测系统及方法,涉及伪装材料检测技术领域,包括结构识别与照明控制模块,用于采集伪装材料样品的表面图像,识别样品表面结构,启动全光谱光源,模拟从弱光到强光的逐级照明,基于标准照度进行RGB成像;区域划分模块,用于对图像应用超像素分割算法,自动划分子区域,对每一区域进行高光谱反射率扫描,同步采集偏振方向光强图像,计算Stokes矢量并构建偏振增强图像。本发明不仅可实现对微观干涉条纹的频域量化分析、偏振异常区域的精确掩膜提取,还通过多角度反射采样与评分函数建模,有效量化伪装材料在复杂光照和视角条件下的光学暴露风险,显著提升了检测精度、区域针对性与自动化水平。
技术关键词
光学性能检测系统
光学性能检测方法
超像素分割算法
图像
掩膜
照度
Otsu算法
灰度直方图
照明控制模块
全光谱
二维快速傅里叶变换
像素点
多角度
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