二极管性能测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品

本申请涉及一种二极管性能测试方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：基于车辆二极管的第一工况数据，控制被测二极管的环境温度和反向电压；若被测二极管的漏电流小于预设电流，则基于车辆二极管的第二工况数据，控制被测二极管的反向电压和芯片结温；若被测二极管的稳态漏电流密度和脉冲响应延迟时长均满足相应的预设条件，则基于车辆二极管的第三工况数据，控制被测二极管的环境温度和反向电压脉冲；若被测二极管被反向电压脉冲击穿的次数和绝缘电阻变化率均满足相应的预设条件，则将被测二极管确定为车规级二极管。本申请提供的方法，既能够提高测试效率，又能够全面对被测二极管进行检测。