摘要
本发明针对传统芯片测试依赖自动测试设备(ATE)导致的效率低下,存储器擦写时序控制复杂的问题,设计实现了基于芯片测试电路且支持接口信号采集的下载装置,通过集成命令处理模块、命令收发模块、信号采集模块、存储管理模块等核心组件,直接采集测试接口的物理信号,绕过JTAG/SPI等下载接口通信协议限制,实现对内置加密机制安全芯片存储器的擦写控制;本发明采用去协议化架构设计突破通信协议约束,降低芯片测试中对ATE设备依赖,缩短下载设备开发和芯片样品验证周期,提升测试和问题分析的效率。
技术关键词
存储管理模块
信号采集模块
下载装置
命令
收发模块
测试模块
控制接口
测试接口信号
芯片测试电路
自动测试设备
非易失性存储器
模块接口
时序
数据接口
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