基于Mamba-YOLO的半导体激光器芯片损伤检测方法及系统

本发明提供一种基于Mamba‑YOLO的半导体激光器芯片损伤检测方法及系统，包括：收集半导体激光器芯片损伤图像构建训练数据集；基于Mamba神经网络和YOLOv8模型构建损伤检测模型，并对YOLOv8模型结构进行改进，更有效地融合不同尺度的特征信息，增强模型对图像特征的捕捉能力和对目标的识别能力；采用训练数据集对模型进行训练，得到损伤检测模型。该损伤检测模型显著提高了半导体激光器芯片损伤检测的准确性和可靠性。