一种芯片自动化测试系统及方法

本发明提供一种芯片自动化测试系统及方法，包括服务器和与服务器通信连接的测试模块；服务器对测试模块下发测试文件，并接收测试模块反馈的测试结果；测试模块对待测试芯片供电，并根据测试文件对待测试芯片进行测试，在测试时，测试模块根据测试内容调整待测试芯片的工作模式，并根据测试进程自动优化测试流程。通过设置多个测试模块，能够同时对更多数量的芯片进行测试，并通过自动优化测试流程，提高了芯片测试的效率；通过测试模块对测试芯片供电，提高了芯片供电的稳定性；由于测试时能够自动调整芯片的工作模式，使得不同模式下的各项功能都能够被测试，提高了测试项目覆盖率，解决了现有芯片测试设备测试项目覆盖率低且效率低下的问题。