LED显示屏测试方法及设备

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LED显示屏测试方法及设备
申请号:CN202510556723
申请日期:2025-04-29
公开号:CN120558524A
公开日期:2025-08-29
类型:发明专利
摘要
本申请适用于LED显示屏测试技术领域,尤其涉及LED显示屏测试方法及设备,该方法包括:将LED显示屏按分形层级划分为多层级区域,并获取各子区域的宏观数据;根据各子区域的宏观数据,计算各子区域的分形维度,并根据各子区域的分形维度,确定异常区域和正常区域;当确定为异常区域,触发微观采样,获取所述异常区域的微观数据;基于所述异常区域的微观数据和所述全屏宏观数据,得到所述异常区域的测试结果,同时基于所述正常区域的宏观数据,得到所述正常区域的测试结果;根据所述异常区域的测试结果和所述正常区域的测试结果,构建全屏高分辨率图谱。该方法通过分析显示屏的整体显示效果和局部问题,实现对LED显示屏更为全面、精确的显示性能评估。
技术关键词
显示屏测试方法 图谱 数据 插值模型 LED显示屏测试 显示屏测试技术 层级 标记 报告 网格 亮度 盒子 处理器 上采样 屏幕 存储器 尺寸
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