同步二进制比率乘法器芯片测试方法、装置、设备及存储介质

本发明属于集成电路技术领域，公开了一种同步二进制比率乘法器芯片测试方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：启动自动测试设备并进行自检，然后动态配置测试参数；基于所述测试参数并利用分治算法生成边界值与随机抽样组合，并行执行率乘法功能测试、同步加载功能测试及清零功能测试，得到功能测试结果，采用时序闭环反馈电路实时监测时钟信号与输出信号的相位偏移，得到时序参数测量结果；通过ATE设备的可编程负载模块连接待测试芯片输出引脚，动态扫描负载电阻并记录输出电压随负载变化的曲线，得到电气特性测试结果；综合多个测试结果生成测试报告，上述方式通过利用动态配置输入参数与多模式并行测试，实现高效功能验证。