一种芯片的检测方法、装置及电子设备

本申请公开了一种芯片的检测方法、装置及电子设备，该方法包括：采集至少一个待检测芯片对应的待检测图片；通过深度学习模型分别对采集的待检测图片进行特征提取，得到对应的高维特征向量；计算高维特征向量与参考图片对应的高维特征参考向量之间的相似度；根据相似度，确定对应的待检测芯片为正常芯片或异常芯片。通过本申请实施例提供的技术方案，减少了人工参与，使得待检测芯片的筛选效率得以提升。