一种基于单能CT的多孔介质亚分辨率孔隙率估算方法

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一种基于单能CT的多孔介质亚分辨率孔隙率估算方法
申请号:CN202510562879
申请日期:2025-04-30
公开号:CN120369568A
公开日期:2025-07-25
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种基于单能CT的多孔介质亚分辨率孔隙率估算方法,包括如下步骤:基于已知数据库,获取样品矿物的质量衰减系数和密度,并计算样品矿物组分的线性衰减系数、相对线性衰减系数上限和相对线性衰减系数下限;通过CT得到的线性衰减系数,和上述计算得到的相对线性衰减系数上限、相对线性衰减系数下限,计算初始孔隙率分布;生成孔隙率分布数据,并输出三维空间模型,以提高CT图像的孔隙率估算精度。本发明通过使用矿物组分的线性衰减系数计算孔隙率,突破质量衰减系数均匀性假设,提高孔隙率估算精度和适用范围,增加了后续工作的稳定性。
技术关键词
分辨率 线性 三维空间模型 密度 校正 晶体 矫正 大颗粒 分析样品 切片 元素 介质 化学式 精度 矩阵 图像 射线 数据 像素 标记
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