存储测试电路、芯片及车辆

本申请提供了一种存储测试电路、芯片及车辆，存储测试电路包括转换模块和测试模块，转换模块和测试模块均设置在芯片内，转换模块分别与测试模块和芯片的测试引脚连接，测试模块分别与芯片内的多个存储模块连接；转换模块用于通过测试引脚接收测试信号和密钥信号，并在密钥信号匹配成功时，将测试信号转换为测试指令；测试模块用于根据测试指令对多个存储模块中的目标存储模块进行测试。设计人员可以自行设置密钥信号，外人无法得知密钥信号，进而无法对芯片中存储模块的内容进行篡改，提高了芯片的安全性。