一种高效率输送芯片及全方位检测方法

本发明提供一种高效率输送芯片及全方位检测方法，用于对芯片的检测和分选，其特征在于：包括第一一工作平台和第一二工作平台，所述第一一工作平台上设置有接收机构、第一一输送机构和第一一检测机构，第一二工作平台上设置有第一二输送机构、第一二检测机构、第一二分选机构、打包机构、贴标签机构和第一四输送机构，所述第一一工作平台和第一二工作平台之间设置有第一三输送机构，将芯片放置在接收机构上；第一三输送机构将接收机构上的芯片放置在第一一输送机构上；第一一输送机构将芯片移动至第一一检测机构区域；第一一检测机构对芯片的底面和侧面进行检测等工序，便于检测且检测效率高。