用于评估高能粒子附加电离区传播损耗的方法及装置、探测设备、存储介质

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用于评估高能粒子附加电离区传播损耗的方法及装置、探测设备、存储介质
申请号:CN202510569455
申请日期:2025-05-02
公开号:CN120671319A
公开日期:2025-09-19
类型:发明专利
摘要
本申请涉及短波通信技术领域,公开一种用于评估高能粒子附加电离区传播损耗的方法,包括:构建生成电离层传播环境;其中,电离层传播环境包括中性气体环境和离子环境、高能粒子附加电离区反射结构;追踪经过高能粒子附加电离区反射结构的射线,构建传播路径仿真模型;根据传播路径仿真模型,确定传播损耗及高能粒子传播总衰减。该方法的技术效果说明。该方法可实现高能粒子附加电离区传播损耗的评估分析,提升高能粒子附加电离区传播损耗计算的准确性。本申请还公开一种用于评估高能粒子附加电离区传播损耗的装置及探测设备、存储介质。
技术关键词
仿真模型 射线 反射结构 粒子 损耗 探测设备 短波通信技术 频率 电子 指数 参数 程序 指令 处理器 离子 重构 存储器 计算机 功率 强度
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