测试模式的转换方法和装置、存储介质及电子设备

本申请公开了一种测试模式的转换方法和装置、存储介质及电子设备，涉及智慧家庭技术领域。该测试模式的转换方法应用于集成芯片，在集成芯片的存储器件中烧录一个整合固件，整合固件中包含产测模式对应的生产测试逻辑和应用模式对应的应用测试逻辑，包括：确定设置于存储器件的可读写配置分区中是否存在标志文件，其中，标志文件用于确定集成芯片的测试模式；在确定可读写配置分区中存在标志文件的情况下，确定集成芯片的测试模式为产测模式，并启动整合固件中产测模式对应的生产测试逻辑；在生产测试逻辑执行完成的情况下，通过串口接口向存储器件发送转换指令，以通过转换指令控制集成芯片的测试模式从产测模式转换至应用模式。