图像缺陷识别方法、装置、电子设备和存储介质

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图像缺陷识别方法、装置、电子设备和存储介质
申请号:CN202510585301
申请日期:2025-05-06
公开号:CN120451118A
公开日期:2025-08-08
类型:发明专利
摘要
本公开实施例公开了一种图像缺陷识别方法、相关装置和介质,该方法包括:获取多个第一方差数据,多个第一方差数据是分别在扩散模型的不同时间步中提取的,扩散模型被设置为经过多个时间步生成待识别图像,第一方差数据为多个去噪特征之间的方差,多个去噪特征是在第一方差数据对应的时间步中基于随机噪声进行多次采样得到的;将多个第一方差数据进行融合,得到第二方差数据;基于第二方差数据进行特征提取,得到图像缺陷特征;基于图像缺陷特征对待识别图像进行缺陷识别,得到待识别图像的缺陷识别结果。本公开能够准确地识别出生成图像是否存在缺陷。本公开可以应用在图像生成、图像质量评分、图像生成模型的训练等场景。
技术关键词
图像缺陷识别方法 缺陷特征提取 模糊特征 噪声特征 融合特征 特征提取模型 随机噪声 语义特征 数据 像素点 样本 积层 图像生成模型 元素 可读存储介质 特征提取模块 多层感知机 计算机程序产品
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