存储芯片测试方法、装置、可读存储介质及电子设备

本发明公开了存储芯片测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，确定多个存储芯片所需的测试项、测试子项以及测试用例，根据测试项、测试子项和测试用例确定多个测试板，并输出存储芯片插入指令，若多个存储芯片已插入多个测试板，则根据测试用例设置测试前置条件，下发测试指令至多个测试板，以使多个测试板对多个存储芯片进行测试，以此利用多个测试板并行测试多个存储芯片，并覆盖不同的测试项和测试用例，既可集成多个测试平台、多个测试项简化测试流程，又可同时对一个测试项测试多颗存储芯片排除测试的偶然性，并且在存储芯片已插入测试板后，还根据测试用例设置测试前置条件，能够简化测试前期准备工作，从而提高了测试的效率和全面性。