一种改进BAM注意力机制结合多光谱成像的复合绝缘子老化评估方法

本发明公开了一种改进BAM注意力机制结合多光谱成像的复合绝缘子老化评估方法，具体步骤如下：(1)老化复合绝缘子的多光谱成像数据采集；(2)老化复合绝缘子的多光谱图像数据集通道筛选；(3)老化复合绝缘子的多光谱图像预处理；(4)老化复合绝缘子的多光谱图像样本划分；(5)老化复合绝缘子的多光谱图像信息特征提取；(6)老化、损伤复合绝缘子的多光谱图像识别模型构建。本发明采用多光谱哈希算法(MSI‑HA)与改进的通道空间注意力机制(IBAM)的特征提取方法，专门用于老化复合绝缘子的多光谱图像分析。该方法首先通过平均哈希算法(AHA)、感知哈希算法(PHA)和差异哈希算法(DHA)的组合，构建多光谱哈希算法(MSI‑HA)，实现对多光谱图像的通道筛选，有效减少数据冗余并保留关键特征信息。进一步地，本发明引入一种改进的瓶颈注意力模块(IBAM)，该模块在传统BAM的基础上进行了优化，能够更精准地捕捉图像的通道和空间特征。通过将IBAM嵌入网络模型，本发明能够对多光谱图像进行深度特征提取，从而提升对绝缘子老化特征的识别能力。在实现更高检测精度的同时能够减少模块参数量，提高计算效率，非常适用于复合绝缘子老化状态评估。