基于LMC工艺的塑料基材表面镀膜缺陷检测方法

AITNT
正文
推荐专利
基于LMC工艺的塑料基材表面镀膜缺陷检测方法
申请号:CN202510597978
申请日期:2025-05-09
公开号:CN120525952B
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本申请涉及镀膜缺陷视觉检测技术领域,具体涉及基于LMC工艺的塑料基材表面镀膜缺陷检测方法,包括:获取塑料基材表面镀膜的膜层形貌灰度图像,构建各像素点的凹坑方向差异度,得到各像素点的凹坑边裂特征值,进而获取各像素点的凹坑特征值,对疑似凹陷特征点进行提取,结合各像素点与疑似凹陷特征点之间的位置关系得到各像素点的凹坑密集显著度,利用四元傅里叶显著性检测算法获取膜层凹坑显著图,经图像分割得到镀膜凹坑缺陷的区域。本申请可提高镀膜缺陷的检测精度。
技术关键词
像素点 塑料基材表面 缺陷检测方法 凹陷特征 显著性检测算法 特征值 镀膜 凹坑缺陷 复杂度 密集特征 分水岭分割算法 纹理 缺陷视觉检测 图像分割 边缘检测算法 邻域 幅值
系统为您推荐了相关专利信息
1
一种自动化集装箱门式起重机控制系统
集装箱门式起重机 堆叠集装箱 轨迹 卷积神经网络模型 指数
2
视觉大模型辅助的统一多任务计算光刻建模与缺陷检测方法
缺陷检测方法 图像生成模型 多任务 焦距偏移量 卷积神经网络特征提取
3
人机交互计算机系统
轮椅 监控器 计算机系统 数值 电子
4
一种PBAT降解膜材料三维展示方法及系统
材料三维展示方法 降解膜 纤维 电镜 初始轮廓
5
一种基于轻量化多尺度特征融合的SOP缺陷检测方法
多尺度特征融合 缺陷检测方法 表面缺陷图像 网络结构 模块
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号