芯片测试方法和电子设备

本发明公开一种芯片测试方法和电子设备，属于半导体技术领域，该方法首先获取被测芯片各字节通道的电平信号，通过参考电压校准确定各通道的电平参考值。随后，基于该参考值独立执行分字节时序测试：在固定时钟周期下，依次为每个字节通道配置多级读取延迟，基于命令端与目标端数据选通信号的采样点，实时测量数据建立时间和保持时间。通过预校准电平参考值与分字节独立测试相结合，有效解决多字节通道间的占空比失衡和输出差异问题，显著提升存储芯片时序参数的测量精度。