一种超高温目标多光谱发射率优化全场温度测量方法

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一种超高温目标多光谱发射率优化全场温度测量方法
申请号:CN202510602483
申请日期:2025-05-12
公开号:CN120445416A
公开日期:2025-08-08
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种超高温目标多光谱发射率优化全场温度测量方法,首先获取被测试件在加热过程中原始图像,通过对原始图像进行红绿双色及红绿蓝三色精细标定,确保测温精度;依据标定结果,动态选择最优比色公式,根据不同温度区间进行精准测温,同时分离原始图像的三通道,分析光谱发射率对测温的影响,并提出基于通道物理性质的约束条件,通过多目标优化算法最小化因光谱发射率估计不准确导致的系统误差,在未知光谱发射率的情况下,获取较优的近似光谱发射率用于校准,从而显著提高了超高温测量的精度与稳定性,适用于航空航天、金属焊接和冶金等领域的非接触式超高温测量。
技术关键词
比色信息 发射率 测温 多项式 温度测量方法 图像 多光谱 彩色工业相机 三通道 红绿蓝 参数 粒子群算法 系统误差 波长 比色法 红色 校准 接触式
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