用于测量电离层电子密度的方法及装置、探测设备、存储介质

本申请涉及电离层电磁环境探测技术领域，公开一种用于测量电离层电子密度方法，包括：构建电离层D区关联的电离层模型并配置模型初始条件；获得模型初始条件下电离层物理过程相关联的物理参数；其中，物理参数包括光化学过程所对应的离子生成速率及离子化学过程所对应的离子产生率、离子损失率；根据离子生成速率与离子产生率、离子损失率，获得不同粒子类型的粒子密度；根据不同粒子类型的粒子密度，确定电离层D区的电子密度。该方法能够实现电离层D区电子密度的准确计算，提升电离层电磁环境的精确探测能力。本申请还公开一种用于测量电离层电子密度装置及探测设备、存储介质。