基于电光晶体超表面的光束扫描器件及其效率优化方法

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基于电光晶体超表面的光束扫描器件及其效率优化方法
申请号:CN202510610480
申请日期:2025-05-13
公开号:CN120577998A
公开日期:2025-09-02
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于电光晶体超表面的光束扫描器件及其效率优化方法,该系统包括由两个高反膜组成的F‑P腔,中间是施加偏压的光栅电极和电光晶体薄膜;由F‑P腔激发的F‑P共振决定了器件的工作波长,在电极上对电光晶体施加电压能通过电光效应改变其所覆盖电光晶体的折射率,从而改变工作波长处的反射率和相位突变;在光栅电极上施加周期变化的电压能使器件的反射率和相位突变周期变化,在电光晶体膜中形成一个类似光栅的结构,通过光栅衍射的原理实现光束偏转,偏转效率通过相应的效率优化算法来优化。本发明提供了一种能实现高速光束扫描的电调超表面的设计方法以及相应的效率优化方法。
技术关键词
扫描器件 超表面 效率优化方法 晶体 光束 反射率 电压 光栅衍射效应 连续金膜 波长 梯度下降算法 层材料 薄膜层 粒子群算法 周期 电极阵列 高反膜
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