摘要
本发明公开一种基于视觉识别算法的MoTe2薄层加工及厚度检测方法,包括步骤一:对MoTe2进行减薄;步骤二:借助MoTe2不同厚度之间的光学衬度变化构建颜色—厚度数据库(下称C‑T数据库);步骤三:借助视觉识别算法,对二维材料进行筛选。本发明可实现有效进行二维薄层材料的制备,提高制样成功率及薄层品质,同时通过搭建C‑T数据库借助于视觉识算法可以极大程度减少制样过程中寻样的时间。
技术关键词
厚度检测方法
识别算法
原子力显微镜
二维材料
视觉
二维薄层材料
光学显微镜
载玻片
胶带
对比度
颜色
基底
数据
参数
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