一种使用低剂量源辐照的热释光测年装置

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一种使用低剂量源辐照的热释光测年装置
申请号:CN202510619865
申请日期:2025-05-14
公开号:CN120314283A
公开日期:2025-07-15
类型:发明专利
摘要
本发明涉及热释光测年技术领域,并公开了一种使用低剂量源辐照的热释光测年装置,包括:探测模块:采用多通道检测技术,内置有光子探测器;加热模块:对待测样品升温,释放样品中存储的能量,并产生热释光信号;辐射模块:用于对样品进行辐照,模拟自然环境中的辐射条件;数据采集与分析模块:负责记录来自探测模块的信号,并对其进行处理和分析;安装模块:该模块用于放置待测样品。本发明提出的热释光测年装置结构简单,方便用户装样和取样,能够实现辐照单元与样品的极限接近,增加源剂量率的增大,从而实现低剂量源辐照的目的,简化了设备管理和审批程序,其次能够更精确地补偿外界因素引起的信号偏差,提高热释光测年装置的测量精度。
技术关键词
光子探测器 模拟自然环境 加热模块 安装模块 剂量响应曲线 模糊PID控制 移动组件 分析模块 在线学习机制 雪崩光电二极管 石墨烯复合材料 精确地补偿 超导纳米线 移动块 多通道 遗传算法优化 推板 实时监测系统 测年技术
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