陶瓷平整度的检测方法及装置

本发明公开了一种陶瓷平整度的检测方法及装置。该方法包括：分别采用多种波长可见光垂直照射釉面并通过CMOS相机采集该釉面反射的干涉图像，得到该釉面的干涉图像组；根据超声换能器向釉层逐点发射的兆赫兹级超声脉冲并根据该釉层和陶瓷坯体之间界面的主反射波，得到该釉层的厚度分布图；以及根据从该干涉图像组提取到的微观点类缺陷并根据从该厚度分布图提取到的宏观厚度变化，采用小波变换融合算法，得到陶瓷平整度的检测结果。本发明通过二者协同覆盖了从微米级表面缺陷到毫米级厚度变化的完整检测维度，提升了检测结果的全面性与可靠性。