一种粒径预测方法、控制系统、存储介质及电子设备

本发明公开了一种粒径预测方法、控制系统、存储介质及电子设备，包括：获取实验参数和纳米涂层的粒径数据；拟合实验参数与粒径数据，建立预测模型，对预测模型进行训练；设定预测目标，通过训练完成后的预测模型，得到预测实验参数和对应的粒径预测值；根据预测实验参数进行实验，计算实际粒径和粒径预测值的差值，判断是否超过误差范围，若超过，返回S2，重新拟合，建立预测模型；对实验参数与粒径数据进行拟合，建立预测模型，可以显示不同实验参数的合成条件下粒径数据的变化，可以根据目标粒径数据得到对应的实验参数，可针对合成条件的变化动态调整实验参数，精准控制目标粒径，有效提高了合成效率和涂层性能。