存储芯片的测试方法、装置、设备及存储介质

本申请公开了一种存储芯片的测试方法、装置、设备及存储介质，主要涉及测试技术领域，所述存储芯片的测试方法用于测试装置对待测试芯片进行测试，所述存储芯片的测试方法包括步骤：获取待测试芯片的信息；根据待测试芯片的信息，查询第一存储单元内是否存在与待测试芯片适配的固件类型的固件；在所述第一存储单元内查询到与待测试芯片适配的固件类型时，第一固件控制单元运行第一存储单元内存储的与待测试芯片适配的固件，对待测试芯片进行测试，得到测试信息；通过上述步骤可以实现对混合不同型号的多个待测试芯片进行测试，降低测试失败的概率。