电路设计的性能分析方法、装置、电子设备以及存储介质

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电路设计的性能分析方法、装置、电子设备以及存储介质
申请号:CN202510641256
申请日期:2025-05-19
公开号:CN120449815A
公开日期:2025-08-08
类型:发明专利
摘要
本公开的实施例提供一种电路设计的性能分析方法、装置、电子设备以及存储介质,该性能分析方法包括获取用于性能分析的约束文件和电路的设计文件,其中,约束文件包括多个约束条件,约束条件用于确定电路的多个路径中的性能路径;根据多个约束条件,对设计文件进行解析,并生成性能分析有向图,其中,性能分析有向图至少包括电路中的性能路径的起点、终点和至少一个中间节点,性能路径为电路的多个路径中用于反映电路的性能的路径;根据性能分析有向图,计算电路的带宽效率,该带宽效率用于表征电路设计的性能。该方法可根据设计文件和约束文件来分析得到电路的带宽效率,相对于人工分析具有更高的准确性,且相对于性能仿真则无需消耗大量时间。
技术关键词
性能分析方法 节点 终点 时钟 性能分析装置 路径搜索算法 电路模块 计算机可执行指令 电子设备 定义 分支 周期 哈希表 系统级 处理器 可读存储介质 存储器 端口
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