存储芯片测试数据的配置系统及配置方法

本发明提出存储芯片测试数据的配置系统及配置方法，配置系统包括：控制单元，用于控制至少一个功能模块进行工作，并向存储芯片写入初始测试数据，并监控进行工作的功能模块中的功能节点；初始测试数据包括多种测试指令；控制单元统计每个工作的功能模块中每个功能节点执行测试指令的工作次数；功能模块的功能节点每执行一次测试指令，其工作次数加一；控制单元根据预设的阈值区间、每个功能节点对应的工作次数，在初始测试数据中调整测试指令数量，以使每个功能节点对应的工作次数位于阈值区间内时，将调整后的初始测试数据生成目标测试数据。本发明可减少存储芯片测试时间及测试成本。