基于通焦扫描图像的尺寸测量方法、装置、设备及介质

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基于通焦扫描图像的尺寸测量方法、装置、设备及介质
申请号:CN202510650102
申请日期:2025-05-20
公开号:CN120558950A
公开日期:2025-08-29
类型:发明专利
摘要
本发明公开了基于通焦扫描图像的尺寸测量方法、装置、设备及介质,涉及纳米器件测量技术领域。本发明的方法包括:根据待测纳米器件的先验形貌尺寸确定尺寸取值集合;建立尺寸取值集合中每个尺寸的仿真通焦扫描图像;对仿真通焦扫描图像进行主成分分解,得到主成分系数矩阵;根据尺寸取值集合与主成分系数矩阵建立回归矩阵;对待测纳米器件的实测通焦扫描图像进行主成分分解,得到实测主成分系数矩阵;根据回归矩阵对实测主成分系数矩阵进行逆向反演,得到测量结果。本发明有效解决了离焦图像噪声干扰问题,在精度、鲁棒性、效率等方面显著优化了TSOM方法的技术性能,为其在先进纳米制造中的规模化应用提供了关键支撑。
技术关键词
纳米器件 纳米尺寸 矩阵 尺寸测量方法 形貌尺寸 显微成像 显微镜载物台 平面波 科勒照明 图像块 仿真建模 处理器 仿真模型 模块 可读存储介质 存储器
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