一种集成电路生产用针脚检测装置

本发明提供一种集成电路生产用针脚检测装置，涉及集成芯片针脚检测技术领域，包括装置工作台和芯片检测针脚供电治具，所述装置工作台中间开设有分离间隔槽，所述集成芯片拨分台内侧固定安装有芯片拨分转台；本发明通过芯片逐个通过芯片进料槽推进集成芯片拨分台上方，并通过芯片限位侧板限制芯片为针脚端在前进入，随后驱动拨分杆伺服电机带动上端的芯片拨分杆拨动芯片针脚相邻的一侧，移动至芯片检测针脚供电治具上，此时芯片的移动状态为，以针脚相邻的一侧向前的方向移动，随后通过芯片检测针脚供电治具进行检测，其通过夹持的方式对芯片的针脚进行连接检测，对芯片的检测损害很小，且方便连接。