用于光感芯片测试的光源校准方法、系统及电子设备

本发明提供了一种用于光感芯片测试的光源校准方法、系统及电子设备，涉及光感芯片校准领域，该方法可利用光筒校准策略并组合光感芯片校准策略来对光筒的光强进行精确校准，从而充分利用光感芯片分选装置的传感器处理校准流程，提高了校准精度，并能够对校准过程进行自动化引导，减少了光筒参数获取中在校准时的人力消耗，提升了校准执行效率，有利于提高光感芯片的测试良率。