兼容性测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品

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兼容性测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品
申请号:CN202510662256
申请日期:2025-05-21
公开号:CN120540986A
公开日期:2025-08-26
类型:发明专利
摘要
本发明涉及人工智能芯片技术领域,提供一种兼容性测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品,该方法包括:将至少两个待测试的高性能计算库的开发文档输入到人工智能代理组件中,得到人工智能代理组件输出的测试流程和测试用例;人工智能代理组件是基于大模型构建的;按照测试流程,利用测试用例对各高性能计算库执行测试,得到各高性能计算库对测试用例的测试结果;基于测试结果生成各高性能计算库之间的兼容性测试报告。通过人工智能代理组件,基于高性能计算库的开发文档自动批量生成测试用例,能够生成完备的测试用例,减少了编写测试用例所需的人工成本,解决了测试用例完备度受限的问题,有利于提高测试结果的准确性。
技术关键词
兼容性测试方法 高性能 接口 人工智能芯片技术 数据 兼容性测试装置 非暂态计算机可读存储介质 内存 生成测试用例 处理器 错误日志 计算机程序产品 错误码 参数 存储器 电子设备 模块
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