摘要
本发明提供了一种基于数据分析的光源控制方法及系统,该方法包括:通过光谱分析仪阵列和光纤探头对LED光源进行多通道光谱特性采集,获取光谱响应曲线和干涉图像并进行多尺度分析处理,生成多维数据张量;对所述多维数据张量进行干涉模式与缺陷信号解耦分析,得到干涉模式特征和干涉‑缺陷判别结果;采用预设的核密度估计和图神经网络根据所述干涉模式特征和干涉‑缺陷判别结果对晶圆表面的干涉敏感度进行空间分布分析,生成干涉敏感度分布矩阵;根据所述干涉敏感度分布矩阵,精确调制LED光源的电流波形和光束相位分布,实现对LED光源的智能控制,有效消除多模式干涉对半导体检测的影响,提高纳米级缺陷检测的准确性。
技术关键词
光源控制方法
光谱响应曲线
LED光源
非线性流形学习
光谱分析仪
状态空间模型
光纤探头
矩阵
网络拓扑结构
光源控制系统
拓扑结构特征
相位调制信号
模式
粒子
空间光调制器
局部线性嵌入算法
数据
多尺度
数字信号处理电路
系统为您推荐了相关专利信息
监测方法
形态学特征
可拆卸载玻片
采样器
电子显微镜样品
高聚光
投射装置
聚光光伏发电系统
光伏电池芯片
机械支撑机构
工艺控制方法
瞬态工作条件
LED芯片表面
PID控制算法
光谱分析仪
照明设备
智能灯光系统
电源驱动器
光源控制方法
参数
综合品质
食品生产线
自动检测系统
成分含量
深度学习模型