内存条测试方法及测试机

本申请涉及一种内存条测试的技术领域，提出一种内存条测试方法及测试机。该方法包括：将待测内存条放置于测试机的并行测试工位上：通过金手指压接机构电接触待测内存条的金手指；对待测内存条进行多物理场耦合测试；通过时序神经网络模型结合注意力机制预测待测内存条的寿命，并通过孤立森林模型对所述待测内存条进行无监督异常检测，自适应调整异常阈值以识别所述待测内存条的缺陷。通过本申请能够全面评估内存条性能，显著提升在复杂运行条件下对内存条潜在缺陷的识别能力和寿命预测的准确性。