一种硬件在环自动化测试方法及系统

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一种硬件在环自动化测试方法及系统
申请号:CN202510673427
申请日期:2025-05-23
公开号:CN120803905A
公开日期:2025-10-17
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种硬件在环自动化测试方法及系统,包括:接收被测设备的技术规范文档及历史失效案例库,通过自然语言处理模型解析技术规范,以提取关键测试参数,将所述关键测试参数与历史失效案例库中的故障模式进行关联分析,生成结构化测试需求表,结构化测试需求表包含测试目标优先级、约束条件及边界值定义;基于所述结构化测试需求表及实时采集的设备工况数据,利用遗传算法生成覆盖边界条件和极端工况的多个测试用例;从多个测试用例筛选出覆盖边界条件及极端工况的测试用例,以得到测试用例序列,测试用例序列中的每个用例包含故障注入参数、预期响应阈值及执行优先级标签。本申请的方法及系统提升了测试覆盖率和效率,减少了人工干预。
技术关键词
自动化测试方法 测试用例筛选 案例库 遗传算法 设备工况 自然语言 序列 工况参数 自动化测试系统 增量学习算法 故障覆盖率 强化学习模型 模式 测试覆盖率 检出故障 管理故障 数据
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