结构电子叠层成像方法、装置、设备、介质及程序产品

AITNT
正文
推荐专利
结构电子叠层成像方法、装置、设备、介质及程序产品
申请号:CN202510675368
申请日期:2025-05-23
公开号:CN120651885A
公开日期:2025-09-16
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种结构电子叠层成像方法、装置、设备、介质及程序产品。在本申请中,在电子显微镜的成像环境下,通过结构电子束对目标样品进行扫描,获得包含目标样品的完整散射信息的四维衍射数据;通过叠层成像算法对四维衍射数据进行重建处理,得到目标样品在实空间的复振幅图像。本申请将结构电子束应用于叠层成像中,避免了传统高斯探针的衍射图样所携带的样品信息有限的缺陷,可解决现有技术中信息获取能力有限的问题;此外,本申请采用结构电子束而不是单一的高斯电子束,而结构电子束可以使用与材料特性对应的结构电子束,因此可以根据样品特性进行量身定制的探针设计,进而解决现有技术中探针与样品匹配困难的问题。
技术关键词
叠层成像方法 电子显微成像系统 电子束 电子显微镜 成像算法 模板 非暂态计算机可读存储介质 空间相位调制 成像装置 空间分布特征 处理器 指数 计算机程序产品 探针 数据 聚光镜 图像
系统为您推荐了相关专利信息
1
一种考虑表面粗糙度的热障涂层沉积特性数值模拟预测方法
模拟预测方法 热障涂层 轨迹修正方法 粗糙度 Fluent软件
2
一种倒装发光二极管芯片及其制备方法
倒装发光二极管芯片 布拉格反射层 金属反射层 半导体层 有源发光层
3
一种基于变积分时间的成像动态范围拓展方法
红外校正图像 动态 非均匀性校正方法 随机噪声 参数
4
一种集成电路芯片热中子软错误来源定位方法
集成电路芯片 热中子 软错误 定位集成电路 定位方法
5
一种基于HRTEM图像的煤芳香烃晶格条纹间孔隙检测方法
孔隙检测方法 芳香烃 条纹 孔隙检测技术 电子显微镜
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号