一种封装体单元化分离方法

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一种封装体单元化分离方法
申请号:CN202510677303
申请日期:2025-05-26
公开号:CN120613270A
公开日期:2025-09-09
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种封装体单元化分离方法,包括以下步骤:基板贴装:将塑封体覆膜后贴装在基板上,塑封体的待研磨面朝向基板;切割凹槽:沿塑封体切割道方向切割部分塑封体形成凹槽;表面研磨:翻转塑封体后覆膜重新贴装在基板上,水平研磨塑封体的待研磨表面直至暴露出塑封体引脚,此时凹槽底部亦被研磨,完成塑封体单元化分离,所述基板贴装步骤中,塑封体内包封有芯片、与芯片电性连接的引脚,所述切割凹槽步骤中,塑封体包括多个安全区和切割道,每个切割道处于对应的安全区内,本发明将原本研磨后切割的顺序进行调换,先将塑封体切割出凹槽,再研磨待研磨面,有效避免切割残胶问题,工艺简单,节约成本。
技术关键词
封装体 基板 凹槽 覆膜 芯片 包封 紫外光 机械
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