一种微发光元件的巨量检测装置及检测方法

本发明公开了一种微发光元件的巨量检测装置及检测方法，巨量检测装置包括固定芯片的承载单元；芯片的第一基板一侧设置多微发光元件；第一图像采集分部和第二图像采集分部位于芯片的两侧，第一图像采集分部靠近微发光元件；第二基板位于第一图像采集分部靠近微发光元件的一侧，并且与第一图像采集分部连接；电信号调节单元分别与第一基板和第二基板电连接，并且为第一基板和第二基板提供交流差分电信号；至少分部第一介质位于第二基板和微发光元件之间；其中，第一介质的平均电负性大于3.04。通过在第一基板和第二基板之间增加电负性较强的第一介质，可以降低第一基板和第二基板之间被击穿的风险，保证巨量检测装置的准确性和稳定性。