一种基于机器视觉的电路板检测方法与系统

本申请适用于视觉检测技术领域，提供了一种基于机器视觉的电路板检测方法与系统，该方法包括：获取电路板表面的初始图像对，基于初始图像对计算视差以生成深度图；基于深度图，利用预设路径规划算法生成优化图像采集路径；根据优化图像采集路径采集电路板表面的图像，得到目标图像集；根据预设特征提取规则提取目标图像集对应的缺陷特征，得到缺陷特征集；基于缺陷特征集构建视觉语义分布，生成缺陷节点特征集；根据缺陷节点特征集，利用每个缺陷节点以及每个缺陷节点之间的边连接关系构建缺陷图拓扑结构；利用图卷积网络对缺陷图拓扑结构进行分析，确定缺陷特征之间的连接关系，生成目标缺陷特征，从而有利于提升电路板缺陷检测的精度。