一种跨制程节点的芯片版图热点检测方法

本发明公开了一种跨制程节点的芯片版图热点检测方法，属于集成电路计算机辅助设计技术领域，步骤包括：将不同制程节点的芯片版图数据转换为二值图像数据保存；将源节点数据和目标节点数据进行双向中心对齐；将匹配后的源‑目标节点数据对输入到三分支的无监督模型中进行模型训练；测试版图时，将待测目标节点数据输入到训练好的无监督模型中的目标分支进行推理，对待测目标节点数据进行热点与否的判断。本发明方法可用于解决现有基于深度学习的热点检测方法中跨节点泛化能力不足的问题，为后续从成熟节点迁移到先进技术节点的热点检测提供可能。