摘要
本发明提供的一种低耦合重布线封装结构及其制备方法,涉及芯片封装技术,该封装结构包括芯片、塑封体、介质层、重构线路层和锡球,芯片的正面设置有金属层;塑封体包覆在芯片的周围;介质层设置在金属层的表面,并覆盖塑封体;重构线路层设置在介质层中,并与金属层连接;锡球设置在介质层远离芯片的一侧,并与重构线路层连接;其中,金属层上蚀刻形成有避让缺口,避让缺口贯穿金属层,且重构线路层在芯片的正面的投影与避让缺口至少部分重叠。相较于现有技术,本发明通过在金属层上形成与重构线路层重叠的避让缺口,能够大幅降低重构线路层与金属层的重叠面积,减小与RDL的耦合效应,高频信号的回损结果得到较大改善。
技术关键词
重布线封装结构
重构
线路
锡球
介质
导电层
正面
芯片封装技术
蚀刻
重叠面积
错位
效应
矩形
信号
系统为您推荐了相关专利信息
光伏功率预测方法
时空局部特征
数据
重构
分解算法
语义分割网络结构
分割方法
特征提取网络
场景
编码模块
识别图像信息
多尺度卷积核
行道树
病虫害
训练检测模型
多模态身份认证
身份认证信息
声纹特征
虹膜特征
场景