存储芯片和半导体测试系统

本申请涉及一种存储芯片和半导体测试系统。所述存储芯片包括时钟选择器、配置选择器、片上时钟源以及存储模块；其中：所述时钟选择器用于基于接收的信号，在外部的输入时钟信号和所述片上时钟源生成的片上时钟信号中确定所述存储芯片的工作时钟信号；所述配置选择器用于基于接收的信号，对所述片上时钟源和/或所述存储模块进行设置；所述片上时钟源用于基于所述配置选择器的设置生成至少一个片上时钟信号；所述存储模块用于基于接收的信号和工作时钟信号进行写入数据和/或读取数据。采用本存储芯片能够提高兼容性和灵活性。