一种基于晶圆级集成与磁路优化的霍尔传感器制备工艺

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一种基于晶圆级集成与磁路优化的霍尔传感器制备工艺
申请号:CN202510708603
申请日期:2025-05-29
公开号:CN120857851A
公开日期:2025-10-28
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种基于晶圆级集成与磁路优化的霍尔传感器制备工艺,其属于半导体传感技术领域,包括以下步骤:磁芯预沉积、霍尔元件制备、低温键合封装、后端集成与测试;本申请创新性的首次提出磁芯原位集成与闭环磁路设计,巧妙的将磁芯与霍尔元件兼容,与传统传感器相比,灵敏度提高,输出信号幅度提升42%、闭环磁芯设计使磁场聚焦效率提升30%以上;热稳定性提高,‑40‑125℃范围内,零点漂移<0.5mV;高度集成,传感器微型化程度高,磁芯与霍尔元件单片集成,芯片厚度≤0.5mm;低温制程兼容CMOS后端集成,支持多功能传感芯片开发,工业实用性好,适用于新能源汽车、工业电机等领域的电流检测模块,具备量产兼容性与成本优势。
技术关键词
霍尔传感器 高磁导率合金 聚酰亚胺绝缘层 霍尔元件 半导体传感技术 保护盖板 离子注入工艺 磁芯设计 闭环磁路 电流检测模块 传感器芯片 工业电机 传感芯片 三价锑 真空密封 新能源汽车
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