多核芯片的安全测试系统、方法及装置

本申请提供有多核芯片的安全测试系统、方法及装置。所述系统包括：多核芯片、互联通道和核心控制模块；所述多核芯片包括至少两颗不同安全等级的芯片核；所述互联通道用于为所述至少两颗不同安全等级的芯片核之间提供数据交互通道，并且所述互联通道内置有多重安全机制；所述核心控制模块设置在芯片顶层，并连接外部测试设备以接收测试指令，并根据所述测试指令对所述至少两颗不同安全等级的芯片核进行选择性测试，以及将所述至少两颗不同安全等级的芯片核的测试结果发送至所述外部测试设备。